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...-distancia Resolución espacial limitada por difracción: <200 nm en XY, <500 nm en Z (con objetivo de inmersión) Rejilla de Echelle con dispersión ultralta; resolución espectral: 0.007 nm (<0.1 cm-1) Óptica de la más alta resolución posible se utiliza simultáneamente con AFM/SICM: hasta 1.45 NA Escaneo dual: escaneo por muestra Y escaneo por punto láser (para mapeo de puntos calientes en TERS)...
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