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La velocidad importa en la inspección, el control de procesos o el análisis de defectos y fallos en la industria de la microelectrónica y los semiconductores. Cuanto más rápido detecte un defecto, más rápido podrá reaccionar. Con un gran campo visual, el sistema de inspección DM3 XL permite a su equipo identificar defectos más rápidamente y aumentar su tasa de rendimiento. Haga uso del campo visual aumentado un 30 % del exclusivo objetivo macro. El DM3 XL utiliza iluminación LED para todos los métodos de contraste. La iluminación LED proporciona una temperatura de color constante y ofrece imágenes a color reales en todos los niveles de intensidad. - Aumente su rendimiento - Detecte de manera fiable el revelado insuficiente en el borde o en el centro de la oblea - Detecte los espesores radiales de capa irregulares - Captura y procesamiento de imágenes a color realistas en todos los niveles de intensidad - Resultados reproducibles
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Con su iluminación LED de luz blanca universal y óptica Leica de alta calidad, el Leica DM2700 M es la herramienta de inspección ideal para muchas evaluaciones de calidad. La iluminación LED para todos los métodos de contraste proporciona una temperatura de color constante y una imagen de color real. Gracias al Asistente de Diafragma con Codificación de Color (CCDA en inglés), el ajuste básico de resolución, contraste y profundidad de campo es sencillo y directo. El contraste oblicuo incorporado permite ver aún más detalles de topografía superficial y defectos.
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