Resultados para
LEICA MICROSYSTEMS
Alemania
El sistema de corte y pulido con triple haz de iones Leica EM TIC 3X permite obtener secciones transversales y superficies pulidas para la microscopía electrónica de barrido (SEM), el análisis de microestructuras (EDS, WDS, Auger, EBSD) y estudios AFM. Con el Leica EM TIX 3X obtendrá superficies de alta calidad en prácticamente cualquier material al trabajar tanto a temperatura ambiente como en condiciones criogénicas, y podrá observar las estructuras internas de la muestra en un estado lo más próximo posible a su estado natural.
Pedir presupuesto¿Vende o fabrica productos similares?
Inscríbase en europages e indexe sus productos
Resultados para
Fresado de metales - Importación exportaciónNúmero de resultados
1 ProductoTipo de empresa
Categoría