Microscopía electrónica - Importación exportación

La ultramicrotomía de alta calidad de muestras para el examen con microscopia electrónica, óptica y de fuerza atómica nunca ha sido tan fácil y preciso. Leica Microsystems presenta su última tecnología de preparación de muestras: el ultramicrotomo Leica EM UC7 y el accesorio de crío-ultramicrotomía Leica EM FC7.

El sistema de corte y pulido con triple haz de iones Leica EM TIC 3X permite obtener secciones transversales y superficies pulidas para la microscopía electrónica de barrido (SEM), el análisis de microestructuras (EDS, WDS, Auger, EBSD) y estudios AFM. Con el Leica EM TIX 3X obtendrá superficies de alta calidad en prácticamente cualquier material al trabajar tanto a temperatura ambiente como en condiciones criogénicas, y podrá observar las estructuras internas de la muestra en un estado lo más próximo posible a su estado natural.