MAF PAT TESTING SERVICES

Experimente una precisión inigualable con nuestro soporte para muestras de PEEK, meticulosamente diseñado para aplicaciones rigurosas en laboratorio. Construido con poliéter éter cetona (PEEK) de alto rendimiento, este soporte para muestras ofrece una durabilidad excepcional y resistencia química, garantizando resultados consistentes y confiables incluso en los entornos de investigación más exigentes. Ideal para una variedad de análisis científicos, nuestro soporte para muestras de PEEK es su solución ideal para mejorar la eficiencia y precisión en el laboratorio.

¿Dispone de equipos muy precisos y sensibles, como un microscopio, un dispositivo de inspección, un sistema de captura de imágenes o una pulidora, y el uso de una plataforma de aislamiento activo o pasivo es insuficiente? Puede que las resonancias locales/globales estén degradando el rendimiento del sistema de aislamiento, porque no es lo suficientemente rígido o porque las fuentes de perturbación están situadas en la pieza aislada. En tal caso, nuestros dispositivos de amortiguación activa ofrecen una solución al introducir amortiguación estructural en la mayoría de las resonancias mecánicas no deseadas. Se puede conseguir hasta un 15% de amortiguación estructural, sin grandes esfuerzos de rediseño. En comparación con los amortiguadores pasivos, los ADD son más ligeros y no son sensibles a los cambios en la dinámica de la estructura de soporte.Reducción de la vibración estructural de máquinas aisladas para mejorar el rendimiento (microlitografía, microscopio, máquinas de fabricación o inspección de chips, etc.)